Optimal designs of constant-stress accelerated life-tests for one-shot devices with model misspecification analysis

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
  3. Ling, M.H.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Año de publicación: 2022

Volumen: 38

Número: 2

Páginas: 989-1012

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/QRE.3031 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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