EM-based likelihood inference for one-shot device test data under log-normal lifetimes and the optimal design of a CSALT plan

  1. Balakrishnan, N.
  2. Castilla, E.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Año de publicación: 2022

Volumen: 38

Número: 2

Páginas: 780-799

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/QRE.3014 GOOGLE SCHOLAR
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