Efficient error detection in Double Error Correction BCH codes for memory applications

  1. Reviriego, P.
  2. Argyrides, C.
  3. A. Maestro, J.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2012

Volumen: 52

Número: 7

Páginas: 1528-1530

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2012.01.017 GOOGLE SCHOLAR
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