A fast and efficient technique to apply Selective TMR through optimization

  1. Ruano, O.
  2. Maestro, J.A.
  3. Reviriego, P.
Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2011

Volumen: 51

Número: 12

Páginas: 2388-2401

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2011.07.020 GOOGLE SCHOLAR
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