Study of charged defects in CdTe and CdHgTe by scanning electron and tunneling microscopy techniques

  1. Panin, GN
  2. Diaz-Guerra, C
  3. Piqueras, J
Revista:
IZVESTIYA AKADEMII NAUK SERIYA FIZICHESKAYA

ISSN: 1026-3489

Año de publicación: 1998

Volumen: 62

Número: 3

Páginas: 461-466

Tipo: Artículo

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Fuente de los datos: WoS