UNIFORMITY CHARACTERIZATION OF SI-GAAS BY CATHODOLUMINESCENCE AND SCANNING ELECTRON ACOUSTIC MICROSCOPY

  1. MENDEZ, B
  2. PIQUERAS, J
Col·lecció de llibres:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1989
  1. CULLIS, AG (coord.)
  2. HUTCHINSON, JL (coord.)

ISBN: 0-85498-056-3

Any de publicació: 1989

Volum: 100

Pàgines: 789-794

Congrés: CONF ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS

Tipus: Aportació congrés

GOOGLE SCHOLAR
Fuente de los datos: WoS