UNIFORMITY CHARACTERIZATION OF SI-GAAS BY CATHODOLUMINESCENCE AND SCANNING ELECTRON ACOUSTIC MICROSCOPY

  1. MENDEZ, B
  2. PIQUERAS, J
Büchersammlung:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1989
  1. CULLIS, AG (coord.)
  2. HUTCHINSON, JL (coord.)

ISBN: 0-85498-056-3

Datum der Publikation: 1989

Ausgabe: 100

Seiten: 789-794

Kongress: CONF ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS

Art: Konferenz-Beitrag

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Fuente de los datos: WoS