A new estimation approach based on phi-divergence measures for one-shot device accelerated life testing

  1. Castilla, E.
Revista:
Quality and Reliability Engineering International

ISSN: 1099-1638,  0748-8017

Año de publicación: 2024

Tipo: Artículo

DOI: 10.1002/QRE.3507 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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