UNIFORMITY CHARACTERIZATION OF SI-GAAS BY CATHODOLUMINESCENCE AND SCANNING ELECTRON ACOUSTIC MICROSCOPY

  1. MENDEZ, B
  2. PIQUERAS, J
Colección de libros:
MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS 1989
  1. CULLIS, AG (coord.)
  2. HUTCHINSON, JL (coord.)

ISBN: 0-85498-056-3

Año de publicación: 1989

Volumen: 100

Páginas: 789-794

Congreso: CONF ON MICROSCOPY OF SEMICONDUCTING MATERIALS

Tipo: Aportación congreso

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Fuente de los datos: WoS